تست با شتاب بالا به طور کلی به تست عمر شتاب بالا و تست تست استرس با شتاب بالا تقسیم می شود، تست عمر با شتاب بالا (به اختصار تست HALT) یک فرآیند است که از سیستم لرزش با تغییر سریع دمای بالا و پایین برای آشکار کردن نقص های طراحی قطعات الکترونیکی و مکانیکی استفاده می کند. هدف HALT شناسایی محدودیت های عملکرد و تخریب محصول در مراحل اولیه توسعه محصول است و در نتیجه قابلیت اطمینان محصول را بهینه می کند. HALT یک آزمایش واجد شرایط یا غیر واجد شرایط نیست، بلکه یک ابزار است که به مهندسان طراحی کمک می کند تا قابلیت اطمینان محصول را بهبود بخشند، بدون محدودیت های پیش تعیین شده، محدودیت ها توسط محصول تعیین می شوند و به تدریج استرس را افزایش می دهند تا زمانی که محصول در آزمایش مورد نظارت قرار گیرد. تست HASS (High Accelerated Stress Screening) تست استرس با سرعت بالایی که پس از عملیات یا تخریب محدودیت ها انجام می شود، با استرس پایین تر از تست HALT انجام می شود.

اندازه گیری گسترده دارای چندین جعبه آزمایش HALT است که همه از برند وارداتی Qualmark هستند، آزمایش Halt / Hass را می توان انجام داد، از جمله: آزمایش استرس گام به گام در دمای پایین، آزمایش استرس گام به گام در دمای بالا، آزمایش استرس گام به گام لرزش، آزمایش چرخه حرارتی سریع و آزمایش استرس جامع، در این آزمایش ها، اغلب همراه با استرس کاری مانند روشن کردن / خاموش کردن محصول، انحراف ولتاژ، انحراف فرکانس و غیره.

آزمایش های Halt/Hass برای ماژول ها، ترمینال های ارتباطی، قطعات و دستگاه های الکترونیکی، ابزار، خودرو و محصولات فضایی انجام می شود.

GB/T 29309；

DKBA1141 مشخصات تست HALT محصولات ارتباطی